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SXJS-IV智能介质损耗测试仪技术参数原理

日期:2024-03-28 17:34
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摘要: SXJS-IV智能介质损耗测试仪技术参数原理 本仪器是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。 二、技术指标 1、环境:-5℃~40℃(液晶屏应避免长时间日照) 2、相对湿度:30%~70% ...

SXJS-IV智能介质损耗测试仪技术参数原理

 

本仪器是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强, 测试时间短等优点,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

二、技术指标

1、环境:-5℃~40℃(液晶屏应避免长时间日照)

2、相对湿度:30%~70%

3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz

4、外形尺寸:长*宽*高=500mm*300mm*400mm

5、重量:28kg

6、输出功率:1.5KVA

7、显示分辨率:3位、4位(内部全是6位)

8、测试方法:正接法、反接法、外接试验电压法

9、测量范围:内接试验电压:≤60000PF(10KV电压大于30000PF)

外接试验电压:由外接试验变压器输出功率而定

10、基本测量误差:

介质损耗(tgδ):1%±0.04%

电容容量(Cx):1%±1pF

三、结构

仪器为升压与测量一体化结构,输出电压2.5KV~10KV五档可调,以适应各种需要,在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似,但比其方便。

图一为仪器操作面板图,图二为仪器接线端面板图。

 

 

1)显示窗------------------------液晶显示屏。

2)试验电压选择开关--------------当开关置于“关”时,仪器无高压输出。

3)操作键盘---------------------选择测量方式、起动、停止、打印等操作。

4)电源插座---------------------保险丝用5A。

5)电源开关---------------------电源通断。

6、7)起动灯--------------------指示高压输出。

(8) 打印机----------------------- 打印测试结果。

★(9)接地端子-------------------使用前,必须将端子可靠接地!!!

★(10)测量电流输出端IX------------有两个出线头,中心头(红色,有CX标记)应与被试品一端相接,屏蔽头(黑色,有E标记)是仪器内部高压变压器的一个输出端,在正接法测量时应接地;在反接法测量时应浮空;外接法参见“外接高压法”。

★(11)标准电流输入端IN-----------仅当外接标准电容器进行测量时才用,该端应与外接标准电容器一端相连。IN必须小于100mA!!!

12)测量高压输出端UH-----------只有一个大铁夹出线头(有UH标记),与被子试品一端相连接,是仪器内部高压变压器的另一输出端。

四、工作原理

仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路,如图三所示。

标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并算出被测试品电容容值(CX)和介质损耗(tgδ)。

数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒完全浮空屏蔽,仪器外壳接地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、可靠。

 

由图三可见,仪器高压器的高压侧和测量线路都是浮地的,用户可根据不同的测量对象和测量需要,灵活地采用多种接地方式。如采用“正接线法”进行测量时,可将“E”点接地;而当采用“反接法”进行测量时,可将“UH”点接地,而将E点浮空。

图中除测试品CX外,其余为本仪器。细线框内部分对仪器外壳随15KV工频高压5分钟,额定耐压10KV。仪器内附标准电容CN,名义值为50PF,tgδ≤0.0001,耐压10KV。高压变压器,额定输出功率为1.5KVA。

★“E”点为仪器内`屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连,不是大地,与仪器外壳也不连通!!!


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